本文面向科研用户，给出低噪声电源 icePower 在 0.1 Hz–50 kHz 带内噪声的标准化测量流程：采用“低噪声前置放大器 + 数据采集卡（DAQ）”，用 Welch 方法估计噪声功率谱密度（PSD），并在指定带宽积分得到 µV（RMS）。文中明确增益/带宽设置、抗混叠、负载条件、校准步骤与结果表达规范，便于复现与横向对比。

测量目标与口径

• 带内均方根噪声：在声明频带（示例：0.1 Hz–50 kHz）对 PSD 积分并开方，单位 µV（RMS）。
• 代表性频点噪声密度：如 1 kHz 处的 S_V(f)（nV/√Hz），便于横向对比。
• 负载口径：测试需给出各路电压/电流与负载类型（阻性/有源），并保持一致。

典型结果口径（示例）

• 带内噪声：2.8–14 µV（RMS，0.1 Hz–50 kHz）。
• 代表性频点：S_V(1 kHz) < 20 nV/√Hz（−5 V 通道）。

测试架构与连接

• 链路：被测通道 → 低噪声前置放大器（如 SRS560）差分输入 → DAQ（≥16 bit，建议 ≥200 kS/s）。
• 线缆/屏蔽：同轴或屏蔽双绞，金属屏蔽箱；机壳与地等电位；星形单点接地。
• 输出与负载：+3.3 V、±5 V、±15 V 等多路；按应用设置阻性/有源负载并记录实际电流；建议通过 DB9（母头）引出，线规与长度一致。

推荐设置与参数

设置项	建议起点	说明
高通（HPF）	0.1–0.3 Hz	抑制直流漂移与极低频摆动；用于频谱估计时可开；最终报告需在“无陷波”条件下复核一次
低通（LPF）	100 kHz	留 2× 带宽余量给抗混叠与采样
前置增益	100×–10000×	避免饱和；跨两档以上复核线性
采样率	≥ 2 × LPF（建议 ≥ 200 kS/s）	配合前端或 DAQ 的抗混叠低通
记录时长	每通道 30–120 s	低频端需要更长记录可适当延长

校准与本底

• 短路本底：前置输入短接，记录 30–60 s，获得系统本底 PSD。
• 增益/频响标定：注入已知幅度的低噪声正弦/多频信号，拟合传递函数并修正总增益。
• 线性一致性：跨 ≥2 个增益档位重复，确认 PSD 与增益近似成比例，高频滚降与 LPF 设置一致。

采集与处理

• Welch 频谱估计：Hann 窗；段长 8k–16k；重叠 50%；平均 ≥ 20 段；频轴用对数刻度。
• 带内 RMS：在 0.1 Hz–50 kHz 对 PSD 数值积分并开方，得到 µV（RMS）；同时绘制“累计 RMS–上截止频率”曲线。
• 工频与谐波：陷波可用于“对比验证”；正式报告需在无陷波条件下复核一次，避免掩盖真实谱形。

结果（示例）

项目	代表值	说明
带内噪声	2.8–14 µV（RMS，0.1 Hz–50 kHz）	对 PSD 在带内积分
1 kHz 噪声密度	< 20 nV/√Hz（−5 V）	频域代表点，便于横向对比
默认输出	+3.3 V、±5 V、±15 V（5 路）	支持定制电压/路数
接口	DB9（母头）	线规/长度一致性、屏蔽良好

常见问题与排查

• 前置饱和/压限：高频端“削平”或 RMS 偏大 → 降低增益或加前端衰减。
• 地环：50/100 Hz 梯级显著 → 改星形地，尝试电池/隔离供电。
• 负载耦合：有源负载振铃或共模注入 → 用等效阻性负载做 A/B 对比定位。
• 带宽与参数未对齐：RMS 无法对比 → 统一频带、窗口、平均次数与采样率。

报告规范清单（便于对比与复现）

• 给出单位与频带：RMS 的积分带宽（示例 0.1 Hz–50 kHz）；代表性频点噪声密度（如 1 kHz）。
• 采集参数：采样率、记录时长；放大器 HPF/LPF 与增益；抗混叠策略。
• 校准说明：短路本底、增益/频响标定、跨档线性一致性。
• 负载条件：各路电压/电流、负载类型与接线；线缆长度与屏蔽。