本文面向科研用户，给出与实验室一致的测量流程：IceRef 基准源直接接入 8.5 位数字万用表，以 10 Hz 采样率长时间记录电压序列；数据处理仅做去直流均值（不做趋势拟合/去漂移）；采用 Welch 方法估计噪声功率谱密度（PSD），并计算指定频带内的均方根噪声（RMS）与长期稳定性。

测量目标与口径

• 噪声功率谱密度：S_V(f)，单位 V/√Hz；对基准源常报告相对值 S_ppm(f)=S_V(f)/V_out×10⁶（ppm/√Hz）。
• 带内均方根噪声：V_RMS=√∫_f1→f2S_V(f)df（µV）。
• 长期稳定性：固定量程、固定采样率下统计 24 h 电压波动（RMS 或 p-p），注明环境与设备。

关键约束（ 10 Hz 采样率）

• 奈奎斯特频率：f_N=Fs/2，Fs=10 Hz ⇒ f_N=5 Hz。
• 最低可分辨频率：Δf≈Fs/L（L 为 Welch 段长）。例如 L=131 072 点 ⇒ T_seg=13 107.2 s（≈3.64 h/段），Δf≈0.000076 Hz（≈0.076 mHz）。

测试装置与参数

• 连接：IceRef OUT/GND → 8.5 位 DMM HI/LO（同材质端子，降低热电势）。
• 采样：Fs=10 Hz；连续记录 ≥ 24 h；量程固定 10 V 档；仅去直流均值（不做趋势消除）。
• 电源与接地：低噪声线性供电；星形单点接地；机壳接地；屏蔽线缆。
• 环境：样品与线缆置于普通实验室环境中，实测过程中未开启空调，温差约10℃；上电稳定时间 ≥ 20 min 后开始记录。

采集步骤（与实验一致）

• 系统本底：短接输入或接等效假负载，记录 10–30 min，得到本底 PSD。
• 基准采样：Fs=10 Hz 连续记录 ≥ 24 h，导出 CSV（time, voltage）。
• 处理前提：仅去直流均值；不做任何趋势拟合/去漂移，保留超低频慢变信息。

频谱估计与 RMS 计算

• Welch 参数：Hann 窗；段长 L=65 536～131 072 点；重叠 50%；平均 ≥ 20 段。
• PSD 单位：先算 S_V(f)（V/√Hz）；如需相对值，换算 S_ppm(f)=S_V(f)/V_out×10⁶（ppm/√Hz）。
• 带内 RMS：在声明的频带（示例：0.01–10 Hz 或 0.1 mHz–10 Hz）对 PSD 数值积分并开方，得到 µV（RMS）。

报告规范清单（便于对比与复现）

• 单位与频带：PSD（V/√Hz 或 ppm/√Hz），RMS 积分带宽（f₁–f₂）。
• 采集参数：采样率、总时长、量程、上电稳定时间、环境温度范围。
• Welch 参数：窗口类型、段长 L、重叠率、平均段数；频轴推荐对数刻度展示低频细节。
• 接地与屏蔽：接地拓扑（星形单点）、线缆类型与长度、屏蔽/隔热措施。

常见误差与排查

• 温度与热电势：导致超低频抬升；使用隔热罩、统一触点材料，降低温度梯度。
• 地环与工频耦合：50/100 Hz 梯级明显；改星形地，必要时电池/隔离供电核对。
• 带宽不统一：不同积分带宽的 RMS 不可直接对比；报告中必须声明带宽。
• 设置变化：量程/采样率变更会改变噪声地板；保持一致并在报告中注明。

参考值（以IceRef 为例）

项目	代表值	说明
相对噪声密度	≈ 0.2 ppm/√Hz @ 0.1 Hz	按 7.18 V 输出换算
24 h 稳定性	< 5 µV（普通实验室）	8.5 位 DMM 连续采样
上电稳定时间	≤ 20 min	预热完成后开始记录